機能紹介

カムサイザー® XT

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新製品カムサイザーXTを導入することで微粒子の品質管理が飛躍的に向上します。粒子の大きさと形を正確に早く、簡単に分析することができるため、原料の精査が可能になり、品質が向上し不合格品が減ります。そのために費やす労力と時間を節約できます。
カムサイザーXTは、ご好評をいただいております弊社の画像解析式粒子径測定装置カムサイザーのデザインをそのまま踏襲し、測定範囲を大幅に広げました。 (1 µm ~ 3 mm). 解像度を高めただけでなく、様々なサンプルに対応できるように開発され、測定可能な対象サンプルを増やしました。微粒子は凝集しやすいため、個々の粒の特質を記録するのは難しいものです。そのため、測定時には凝集を防ぐため粒子を分散させながらも、個々の粒子を傷めないよう配慮する必要があります。
そこでカムサイザーXTは様々な粒子の性質に合わせ、粒子を傷めない最適な分散モジュールを選択できるX-Changeシステムを採用しました。X-フォールはあまり凝集しない性質の粒子を、自由落下させます。最も試料に優しい方法です。X-ジェットは圧搾空気を調整しながら分散させることができます。X-フォローは液体中でポンプと超音波を使って試料を分散させます。

アプリケーション例

セメント, プラスチックファイバー, プラスチック粉, 医薬品 粉 / 粒 / ペレット, 塩, 木の繊維, 洗剤と酵素, 砂, 砂糖, 研磨性の高いもの(中くらい、小さな粒), 鉄・鉱石の粉, 食品 (粉末、粒状のもの), ...

長所

  • 2台のCCDカメラを使った、特許取得の画像解析方式 ( ISO 13322-2準拠)
  • 超ワイドな測定範囲 1 µm ~ 3 mm
  • 最新の光学システムを採用した超強力LEDで、高解像度。微粒子もシャープに撮影。
  • 極微量しか存在しないスペック外のサイズの粒子も精度の高い検出が可能
  • 短時間での測定、1~3分
  • 乾式と湿式のモジュールを交換できるX-Changeシステム
  • 試験ふるいを使った分級結果との高い互換性
  • 直観的に操作可能な使いやすいソフトウェア
  • 多言語ソフトウェア (ドイツ語、英語、日本語(一部) その他)
  • 詳細な粒度解析。結果を1000以上のサイズに分類可能。
  • 粒子の大きさ、形、数、密度、透明度を同時に測定
  • 分析中試料と接触が無いため、試料を傷めません
  • 数分で校正が可能
  • 取扱いが簡単で、操作ミスを防ぎます。
  • 測定条件入力にパスワードの設定が可能。
  • 測定工程を自動化
  • 頑丈なデザインで、ほこりやがたつきを防ぎます。
  • 自動クリーニング。メンテナンスフリー。
  • ふるい分けにかかる時間と労力を節約

特徴

測定原理 デジタル画像解析 (ISO 13322-2)
測定範囲 Standard
1 µm to 8 mm
10 µm to 8 mm (gravity dispersion)
1 µm to 1.5 mm (air pressure dispersion)
1 µm to 600 µm (wet dispersion)
extended measuring ranges
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測定タイプ 乾式、および湿式分析
測定時間 1 ~ 3 分 (ご希望の統計値により異なります)
サンプル量 < 100 mg ~ 100 g (試料と測定モードにより異なります。)
測定能力 > 250画像/秒, 各 約 1.3 Mピクセル
分析エリア幅 25 mm (FoV)
解像度 1 µm
測定パラメータ 粒子径 (最短径、長さ、平均径)
粒子形状 (アスペクト比、 対称度、 真円度、 凸性 等 ISO 9276-6 準拠)
寸法 (W x H x D) ~ 850 x 580 x 570 mm
重量(測定部) ~ 50 kg
標準セット クアッドコア PC ( Windows 7 搭載)、 モニター、 キーボード、マウス、ネットワークカード、PCインターフェースカード、測定部

機能

カムサイザーXTは画像解析式を採用した粒度測定を行います。当社が特許を取得する2台のCCDカメラを使ったこの方式はシンプルです。分散させた試料を、2つの大変強力な点滅するLED光源の前に通過させます。 その陰影を2台のデジタルカメラで撮影します。1台のカメラは小さな粒子を捉える高画質カメラで、もう1台のカメラは大き目の粒子を広い範囲で捉えます。それぞれのカメラが最適な光源を得れるように、LEDが照度、パルスの長さ、写角を自動調整します。ユーザーフレンドリーなソフトウェアは各粒子の大きさと形を記録すると同時に計算し、リアルタイムで粒度分布測定結果をグラフで見ることができます。

予告なく仕様の一部を変更することがあります。